面向Beyond5G/ADAS應(yīng)用場(chǎng)景評(píng)估分析頻率特性的解決方案

       這是Advantest太赫茲光學(xué)采樣分析系統(tǒng)的一個(gè)選項(xiàng)。它適用于評(píng)估無線電波吸收器、印刷電路板材料、聚合物材料等的頻率特性，這些材料是下一代無線通信技術(shù)（后5G/6G）和用于ADAS（高級(jí)駕駛員輔助系統(tǒng)）的毫米波雷達(dá)所*的。可評(píng)估毫米波至太赫茲波段，各種材料的傳輸特性（透射率、反射率）和復(fù)介電常數(shù)。

     通常在評(píng)估各種材料在毫米波和高頻段區(qū)域的傳輸特性（透射率、反射率）和復(fù)介電常數(shù)的時(shí)候我們會(huì)用到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA)* ，而如今隨著5G技術(shù)的廣泛應(yīng)用和衍生技術(shù)的迭代更新，對(duì)于在更寬的帶寬上評(píng)估這些特性的需求變得更為迫切。同時(shí)在使用VNA評(píng)估這些特性時(shí)需要設(shè)置和校準(zhǔn)每個(gè)頻段，故此帶來的時(shí)間和精力消耗引發(fā)了一系列的問題。

      TAS7400TS太赫茲光學(xué)采樣分析系統(tǒng)新增高分辨率配件。新配件為無線電波吸收材料和基材的高頻特性評(píng)估提供了開創(chuàng)性的測(cè)量方法，這對(duì)于后5G / 6G的下一代通信技術(shù)和ADAS（高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng)）中使用的毫米波雷達(dá)技術(shù)而言是很重要的。

   在新配件的加持下，用戶可以通過使用緊湊的光學(xué)采樣系統(tǒng)獲得的更具優(yōu)勢(shì)的測(cè)量環(huán)境進(jìn)行測(cè)量，從而節(jié)省成本和空間。此外，TAS7400TS的掃描測(cè)量配件可以分析表面頻率特性，而此次新配件的頻率分辨率和掃描速度是以前產(chǎn)品的5倍，使其成為了評(píng)估新材料高頻特性的*佳解決方案。

              系統(tǒng)配置建議（30 GHz 至2 THz）

可利用緊湊型設(shè)備來測(cè)定從毫米波到太赫茲波的電磁特性

● 實(shí)現(xiàn)380MHz高頻率分辨率

● 不需要VNA那樣切換掃頻波段，一次實(shí)現(xiàn)寬帶寬 （30GHz~2THz） 的測(cè)定

● 40ms的掃描速度對(duì)寬帶寬進(jìn)行掃描

● 系統(tǒng)配有透射/反射測(cè)量模塊，更容易校準(zhǔn)設(shè)備

● 通過遠(yuǎn)程編程功能就能實(shí)現(xiàn)二維掃描測(cè)量

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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）是通過測(cè)量網(wǎng)絡(luò)各個(gè)端口對(duì)頻率/功率掃描測(cè)試信號(hào)的幅度與相位響應(yīng)，從而測(cè)量器件網(wǎng)絡(luò)特性的儀器，它結(jié)合了頻譜分析，信號(hào)發(fā)生以及信號(hào)分離等各項(xiàng)技術(shù)。應(yīng)用于芯片測(cè)試，微波器件，材料科學(xué)，電子通信等基礎(chǔ)性行業(yè)和領(lǐng)域。

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